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          膜厚测试仪
          膜厚测试
           实验设备
           品牌: 牛津
           型号: X-Strata920
           设备参数
           可测元素: 22~92号,如Au-Ni-Cu-Sn
           可测层数: 基材+4层电镀层
           精准度: 第一层镀层厚度≦20u” 误差:±0.1
                               ≧20u” 误差:±5%
           第二层镀层厚度误差:±10%
           第三层镀层厚度误差:±15%
           第四层镀层厚度误差:±15%
           实验条件
           升压----预热----波普校准
           温度: 20~80℃
           湿度: 45~75%RH
           判定标准
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